Etude et modélisation des défauts des circuits intégrés en vue de leur analyse de fiabilité
Type doc. :
Thèses / mémoires
Langue :
Français
Auteur(s) :
Année de soutenance:
2011
| N° Bulletin | Date / Année de parution | Titre N° Spécial | Sommaire |
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| N° d'Exemplaire / inventaire | Cote | Localisation | Type de Support | Type de Prêt | Statut | Date de Restitution Prévue | Réservation |
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| 700EL/2011/02 | 700EL/2011/02 | externe | disponible |
Ait Abdelmalek, G. & Ziani, R. (2011). Etude et modélisation des défauts des circuits intégrés en vue de leur analyse de fiabilité (Magister) . Tizi ouzou.